第二届第二次全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会全体会议（2013年年会）于2013年7月12日至13日在北京中国科学院物理研究所召开。全国各地XPS和AES的标准制定专家齐聚北京中国科学院物理研究所，会议讨论并审查了多个XPS和AES的国家标准，相关工作取得了重大进展，顺利达到了预定的目标。

   云顶国际公司XPS北区负责人朱正辉先生作为业界厂商代表出席了此次会议。

全球首台128道超快速高灵敏采谱XPS — Axis Ultra DLD：

   云顶国际公司一直把“以科学技术为社会做贡献”作为宗旨，致力于为中国的科研工作者提供性能卓越、稳定耐用的X射线分析仪器。由云顶国际集团英国Kratos公司生产的成像型多功能XPS — Axis Ultra DLD，具备领先的DLD阵列检测器，可以轻松实现高分辨和高灵敏XPS分析，是唯一可以实现128道超快速高灵敏采谱的XPS，亦可实现快速平行成像，拓展多种分析功能，包括紫外光电子能谱、俄歇电子能谱、高温反应—准原位XPS分析等。Axis Ultra DLD受到全球诸多知名高校和科研机构的认可，更被NIST（National Institute of Standards and Technology，美国国家标准与技术研究院）用作发布标准XPS谱图的设备。